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Brevetti

N ENEA 682
N. Domanda Brevetto RM2009A000233
Titolo Brevetto Materiale di Riferimento per l'Analisi Quantitativa di Elementi su Scala Nanometrica, e Procedimento di Calibrazione per la Micro-Analisi a Raggi X o la Spettroscopia Elettronica, in Microscopia Elettronica a Trasmissione.
Inventori Nacucchi Michele - Alvisi Marco
Territorio Protezione Italia.
Data Deposito 12-05-2009
Scheda inserita il 12-05-2009
Titolari ENEA
N Brev Italia 1394109
Riassunto Brevetto
L'invenzione concerne un materiale di riferimento per l'analisi quantitativa di elementi su scala nanometrica per la micro-analisi a raggi X o la spettroscopia elettronica in microscopia elettronica in trasmissione detta TEM, caratterizzato dal fatto di comprendere una griglia di materiale opaco al fascio elettronico, sulla quale è deposto un materiale di supporto, preferibilmente a bassa emissione raggi X, adatto per l'osservazione al TEM, in modo tale che una sua parte risulti in aggetto verso l'interno dei vuoti di detta griglia, e sul quale sono depositati successivamente due o più strati di differente materiale monoelementale. L'invenzione concerne altresì un procedimento di calibrazione per la micro-analisi a raggi X o la spettroscopia elettronica, in microscopia elettronica a trasmissione, che utilizza il materiale di riferimento secondo l'invenzione. Il materiale di riferimento è costituito da uno o più strati degli elementi di interesse, es. oro e argento, realizzati tramite tecniche fisiche di deposizione da fase vapore su griglie di rame con film di carbone amorfo.
Status  
Area Tecnologica Scienze dei Materiali
Tipo Prop Intellettuale Brevetto
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